|
Уникальное оборудование - уникальные возможностиУникальное оборудование - уникальные возможности
Сканирующий зондовый микроскоп Cypher ES Позволяет проводить эксперименты в жидкостях, газовой фазе при контролируемых условиях и температуре со следующими уникальными техническими возможностями: • Введение и обмен газов/жидкостей в герметичной ячейке. • Возможность работы с микрокаплей (< 20 мкл). • Интегрированный контроль температуры. • Химическая стабильность ячейки (совместима с органическими растворителями, кислотами, щелочами). Технические характеристики: • СЗМ сканер и блок подвода Специальный сканер для использования в условиях окружающей среды, отличающихся от обычных. - рабочий диапазон по осям XY -30/40 мкм ( с включенной/выключенной обратной связью); - рабочий диапазон по оси Z - 5/7 мкм ( с включенной/выключенной обратной связью); - независимые цифровые LVDT датчики с обратной связью для всех трех осей; • Модуль обзора на кантиливер и образец Система освещения на основе светодиодов и 3,1 Мпикс ПЗС видеокамеры. • Базовый модуль лазерного диода - лазерный модуль с номинальным размером пятна на кантилевере 10x30 мкм. • Набор для исследования электрических свойств и проводимости в контролируемой среде включающей - держатель для кантилевера с усилением 2нА/В (2е-9); - ячейку для напуска газов с перфузией и низковольтными электрическими контактами; • Специальный держатель для проведения исследований при помощи СТМ. • Держатель для образцов с возможностью нагрева и охлаждения. Диапазон температур: 0-120 'С. • Дополнительный модуль лазерного диода с малым размером пятна. Лазерный модуль с номинальным размером пятна на кантилевере 3х9 мкм для использования с кантилеверами малого размера. Методики сканирующей зондовой микроскопии: Стандартные: • контактный режим • метод латеральных сил • режим прерывистого контакта, включая цифровой контроль добротности колебаний кантилевера • частотно-модулированная микроскопия • технология, основанная на мультичастотном возбуждении кантилевера и поддерживает гармонические двухчастотные методики сканирования для получения топографии и механических свойств поверхности • электро-силовая микроскопия • метод зонда кельвина • магнитно-силовая микроскопия • микроскопия пьезо-отклика • силовые измерения в контактном и полуконтактном режиме • нанолитография • сканирование в жидкости Опциональные режимы: • микроскопия проводимости. Модуль ORCA обеспечивает низкотоковые измерения (~1пA – 10мкA) при постоянном поданном напряжении • туннельная микроскопия • AM-FM микроскопия для исследования вязкоупругих свойств образцов • режим широкополосного возбуждение кантилевера для исследование механических и пьезоэлектрических свойств материала Описание проводимых исследований Вначале исследования проводятся методом атомно-силовой микроскопии в полуконтактном режиме, кантилеверами с относительно малыми коэффициентами жесткости для обеспечения высокой чувствительности, и избегания непосредственного воздействия зонда с образцом, что может привести к повреждению образца в поле сканирования или с высокими коэффициентами жесткости для обеспечения высокой точности сканирования и наилучшего качества (при первых исследованиях топография поверхности известна только теоретически). Затем проводятся исследования методом атомно-силовой микроскопии в полуконтактном режиме, кантилеверами с высокими коэффициентами жесткости для обеспечения высокой точности сканирования и наилучшего качества сканирования проводятся при последующих исследованиях (топография поверхности известна, измерена шероховатость поверхности). В исследование входит измерение топографии поверхности и измерение фазового контраста поверхности образца в двух областях с разрешением 512x512 точек. Размеры топографии поверхности и изображений фазового контраста: 30x30 мкм2, 15x15 мкм2 и 5x5 мкм2. Результатом исследований является 12 сканов. Результат исследований предоставляется в виде файла с 12-тью изображениями топографии поверхости и измерения фазового контраста в формате .gwy, который можно посмотреть или отредактировать в бесплатном ПО, которое доступно для скачивания в интернете - Gwyddion. Требования к исследуемому образцу: - максимальные размеры подложки 13х13 мм, - максимальная шероховатость (перепад по высоте) исследуемых объектов на подложке не более 3 мкм.
|
