Май 2017
Пн Вт Ср Чт Пт Сб Вс
1 2 3 4 5 6 7
8 9 10 11 12 13 14
15 16 17 18 19 20 21
22 23 24 25 26 27 28
29 30 31 1 2 3 4

Вакансии

Услуги сканирующей зондовой микроскопии высокого разрешения

Зондовая микроскопия позволяет решать широкий круг научных задач, касающихся физики полупроводников, диэлектриков, пьезоэлектриков, биологических исследований клеток и макромолекул, физики полимеров, наночастиц и других материалов.  

Наименование услуги

Стоимость услуги, руб./образец

1

Стандартное атомно-силовое исследование образцов на воздухе (в контактном или полуконтактном режимах) (максимальный размер образца – 13х13 мм)

5000

2

Атомно-силовое исследование образцов с использованием различных методик (метод Кельвина, латеральных сил)

6000

3

Атомно-силовое исследование образцов в капле жидкости (в контактном и полуконтактном режимах)

6000

4

Сканирующая туннельная микроскопия проводящих материалов

5000

5

Исследование проводимости образца в наномасштабе методом растекания тока

6000

6

Атомно-силовое исследование кантилевером с повышенной жесткостью с частотой до 5 МГц для получения изображений высокой точности (данная опция доступна только в микроскопе Cypher)

7000

7

Картирования по механической жесткости и адгезионной силе

6000

8

Векторная и растровая литография

6000

9

Магнитно-силовое исследование магнитных структур

6000

10

Атомно-силовая и туннельная микроскопия в среде с заданными параметрами, такими как температура, давление (данная опция доступна только в микроскопе Cypher и используется преимущественно для биологических объектов)

8000