Июнь 2018
Пн Вт Ср Чт Пт Сб Вс
28 29 30 31 1 2 3
4 5 6 7 8 9 10
11 12 13 14 15 16 17
18 19 20 21 22 23 24
25 26 27 28 29 30 1

Вакансии

Партнёры

Поддержка правительства Москвы

Межотраслевое объединение наноиндустрии


Услуги сканирующей зондовой микроскопии высокого разрешения

Услуги сканирующей зондовой микроскопии высокого разрешения

Зондовая микроскопия позволяет решать широкий круг научных задач, касающихся физики полупроводников, диэлектриков, пьезоэлектриков, биологических исследований клеток и макромолекул, физики полимеров, наночастиц и других материалов.  

Наименование услуги

Стоимость услуги, руб./образец

1

Стандартное атомно-силовое исследование образцов на воздухе (в контактном или полуконтактном режимах) (максимальный размер образца – 13х13 мм)

5000

2

Атомно-силовое исследование образцов с использованием различных методик (метод Кельвина, латеральных сил)

6000

3

Атомно-силовое исследование образцов в капле жидкости (в контактном и полуконтактном режимах)

6000

4

Сканирующая туннельная микроскопия проводящих материалов

5000

5

Исследование проводимости образца в наномасштабе методом растекания тока

6000

6

Атомно-силовое исследование кантилевером с повышенной жесткостью с частотой до 5 МГц для получения изображений высокой точности (данная опция доступна только в микроскопе Cypher)

7000

7

Картирования по механической жесткости и адгезионной силе

6000

8

Векторная и растровая литография

6000

9

Магнитно-силовое исследование магнитных структур

6000

10

Атомно-силовая и туннельная микроскопия в среде с заданными параметрами, такими как температура, давление (данная опция доступна только в микроскопе Cypher и используется преимущественно для биологических объектов)

8000