Услуги сканирующей зондовой микроскопии высокого разрешения
Услуги сканирующей зондовой микроскопии высокого разрешения
Зондовая микроскопия позволяет решать широкий круг научных задач, касающихся физики полупроводников, диэлектриков, пьезоэлектриков, биологических исследований клеток и макромолекул, физики полимеров, наночастиц и других материалов.
|
№
|
Наименование услуги
|
Стоимость услуги, руб./образец
|
|
1
|
Стандартное атомно-силовое исследование образцов на воздухе (в контактном или полуконтактном режимах) (максимальный размер образца – 13х13 мм)
|
5000
|
|
2
|
Атомно-силовое исследование образцов с использованием различных методик (метод Кельвина, латеральных сил)
|
6000
|
|
3
|
Атомно-силовое исследование образцов в капле жидкости (в контактном и полуконтактном режимах)
|
6000
|
|
4
|
Сканирующая туннельная микроскопия проводящих материалов
|
5000
|
|
5
|
Исследование проводимости образца в наномасштабе методом растекания тока
|
6000
|
|
6
|
Атомно-силовое исследование кантилевером с повышенной жесткостью с частотой до 5 МГц для получения изображений высокой точности (данная опция доступна только в микроскопе Cypher)
|
7000
|
|
7
|
Картирования по механической жесткости и адгезионной силе
|
6000
|
|
8
|
Векторная и растровая литография
|
6000
|
|
9
|
Магнитно-силовое исследование магнитных структур
|
6000
|
|
10
|
Атомно-силовая и туннельная микроскопия в среде с заданными параметрами, такими как температура, давление (данная опция доступна только в микроскопе Cypher и используется преимущественно для биологических объектов)
|
8000
|
| 
