"Русский репортер", проект НАНО-24: Краш-тест для микросхемы

Перейти в раздел "Научные публикации"

27.02.2013
В испытательном центре Зеленоградского нанотехнологического центра проходят комплексную проверку все корпусированные микросхемы как собственного производства, так и сделанные их партнерами. Их трясут, охлаждают до экстремально низких температур, нагревают до 300 градусов по Цельсию, покрывают инеем в специальной камере, просвечивают рентгеновскими лучами и, в конечном итоге, прокалывают иголкой толщиной в 17 микрон.

Сегодня в 11 утра инженер Михаил Иванов запускает процесс разрушающего функционального анализа микросхемы, при котором ее сначала нагревают до 100 градусов, а затем прокалывают с целью выпустить скопившийся под корпусом микросхемы пар.


Возврат к списку